電鍍膜厚檢測(cè)儀分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
電鍍膜厚檢測(cè)儀的影響因素有哪些？
1、基體金屬磁性量
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變革的影響(正在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變革能夠認(rèn)為是細(xì)微的)，為了制止熱處置和冷加工因素的影響，應(yīng)使用取試件基體金屬具有不異性量的尺度片對(duì)儀器停止校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件停止校準(zhǔn)。
2、基體金屬電性量
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率取其質(zhì)料成分及熱處置辦法有關(guān)。使用取試件基體金屬具有不異性量的尺度片對(duì)儀器停止校準(zhǔn)。
3、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于那個(gè)厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
4、邊沿效應(yīng)
本儀器對(duì)試件外表外形的陡變敏感。因而正在靠近試件邊沿或內(nèi)轉(zhuǎn)角處停止丈量是不成靠的。
5、曲率
試件的曲率對(duì)丈量有影響。那種影響總是跟著曲率半徑的減少明顯地刪大。因而，正在彎曲試件的外表上丈量是不成靠的。
6、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因而正在那些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、外表粗拙度
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